電子元器件失效分析是電子元器件廣泛應用和開發過程中的一個關鍵環節。它通過分析元器件在使用過程中可能出現的問題和隱患，對失效的元器件進行測試和分析，以確定失效原因。幫助客戶及時發現并解決元器件故障，從而保障整個系統的穩定運行。
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400-009-7767 項目介紹
電子元器件失效分析是電子元器件廣泛應用和開發過程中的一個關鍵環節。它通過分析元器件在使用過程中可能出現的問題和隱患，對失效的元器件進行測試和分析，以確定失效原因。幫助客戶及時發現并解決元器件故障，從而保障整個系統的穩定運行。
測試范圍
電子元器件
測試項目
形貌分析技術——體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。
成分檢測技術——X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質譜SIMS、光譜、色譜、質譜。
電分析技術——I-V曲線、半導體參數、LCR參數、集成電路參數、頻譜分析、ESD參數、電子探針、機械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。
開封制樣技術——化學開封、機械開封、等離子刻蝕、反應離子刻蝕、化學腐蝕、切片。
測試標準
GJB 536B-2011 電子元器件質量保證大綱
GJB 33A-1997 半導體分立器件總規范
GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序
GJB 597A-1996 半導體集成電路總規范
GJB 841 故障報告、分析和糾正系統
GJB 65B-1999 有可靠性指標的電磁繼電器總規范
GJB 450A 裝備可靠性工作通用要求
儀器設備
借助2000+大型儀器設備和豐富的處理方案，針對各行業研發分析中的難題，提供技術支撐和指導。
技術團隊
由20多名博士、100余名碩士組成的技術過硬、經驗豐富的技術團隊，具備科研檢測的核心競爭力。
定制化服務
根據客戶需求和行業通用標準，定制化測試方案，全程跟蹤測試情況。
能力全面
在華東、華中、華北、西北地區分別建有大型綜合檢測基地，具有行業頂尖的檢驗檢測分析實驗室。